RM 8988 二氧化鈦粉體-粒度分布標準品使用

RM 8988  二氧化鈦粉體-粒度分布標準品旨在用于評估和校準用于測量 0.1 μm 至 0.5 μm 粒徑范圍內的粒徑分布 (PSD) 值的設備。使用激光散射 (LLS) 和 X 射線圓盤離心 (XDC) 測量 PSD 值，這是 PSD 的兩種常用方法確定價值。一個 RM 8988 單位由一個裝有大約 6 克金紅石二氧化鈦粉末的瓶子組成。

儲存說明：RM 8988  二氧化鈦粉體-粒度分布標準品瓶應在干燥條件下蓋緊蓋子，以防止吸濕導致粉末結塊。

樣品制備和測量程序

使用LLS和XDC技術對十個瓶子中的每個瓶子中的兩個樣品進行分析，以測量材料特定百分位數(shù)較小的直徑，稱為累積質量分數(shù)細。百分比為5、10、15、20、25、30、35、40、45、50、55、60、65、70、75、80、85和90。對于每個百分位數(shù)，每種技術測量之間唯一發(fā)生變化的實驗設置是材料瓶。對于每個累積質量分數(shù)更細的顆粒，將十個瓶子的測量粒徑值取平均值，得到一個參考直徑值。

LLS技術：將約0.4克RM粉末加入到40毫升含有0.01%（質量分數(shù)）六偏磷酸四鈉的過濾去離子水中的溶液中。使用功率為40W的超聲波探針儀器在兩個2分鐘的循環(huán)中分散粉末；在循環(huán)之間使用冷卻水浴將所得懸浮液冷卻至室溫。

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